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半導體α、β、γ表面污染監(jiān)測儀
點擊次數(shù):1511 更新時間:2016-12-15

半導體α、β、γ表面污染監(jiān)測儀 探測α和β射線及γ射線的輻射監(jiān)測儀表,采用硅半導體探測器。該儀表小巧輕便且探測效率高,且具有自我診斷功能、通信功能、存儲等豐富的功能。

儀器特點 半導體α、β、γ表面污染監(jiān)測儀

  • 采用半導體探測器,不需定期交換探測器,經(jīng)濟實用
  • 可進行量程廣且精度高的測量,測量范圍為0~99990 min
  • 采用彩色有機EL顯示屏,其畫面明亮且寬視角,易于目視
  • 測量值和時間可保存1200點
  • 具有自我診斷功能
  • 測量值可通過USB接口存儲到計算機

 

技術規(guī)范

 

 

測定射線

α射線,β射線,

探測器

硅半導體

有效探測面積

100cm2

顯示范圍

099990 min-1,09999000 counts,γ射線:BG99.9mSv/h

探測效率

α射線241Am 20%,β 射線 90Sr-90 30%

時間常數(shù)

1,310 sec,自動

趨式數(shù)據(jù)存儲

1200 

數(shù)據(jù)輸出

USB 接口

電池壽命

小時以上 ( 無顯示)小時以上 ( 連續(xù)顯示)

    

堿性電池節(jié),鎳氫充電電池( 另選)

AC100240 VAC 適配器( 另選)

工作溫度

-5  +45 / 23  113?F

工作濕度

 90 %RH 無結露)

   

120(W)×56(H)×293(D) mm,4.7(W)×2.2(H)×11.5(D) in

   

 0.75 kg / 1.65 lb. ( 不含電池)

依據(jù)標準

IEC60325 (2002)

蘇公網(wǎng)安備 32048202000124號

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